1. Power-aware testing and test strategies for low power devices
پدیدآورنده : Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen, editors
کتابخانه: كتابخانه مركزی و مركز اطلاع رسانی دانشگاه شاهد (تهران)
موضوع : Low voltage integrated circuits, Power supply,Low voltage integrated circuits, Testing
رده :
TK
،
7874
،.
P678
،
2010
2. Power-aware testing and test strategies for low power devices
پدیدآورنده : / Patrick Girard, Nicola Nicolici, Xiaoqing Wen, editors
کتابخانه: کتابخانه مرکزی، مرکز اسناد و تامین منابع علمی دانشگاه صنعتی سهند (آذربایجان شرقی)
موضوع : Low voltage integrated circuits, Power supply,Low voltage integrated circuits, Testing
رده :
E-BOOK